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具有多年XPS、DLS等操作經(jīng)驗。精通XPS技術(shù)在材料表征上的應用，尤其在催化、電池材料的峰形處理方面具有豐富經(jīng)驗和實操技能。同時，在DLS樣品制備和濃度效應分析上有獨到的理解和實踐經(jīng)驗。

馬騁

測試工程師

項目介紹

通過對材料進行X射線衍射，得到其衍射圖譜，可獲得材料的成分、內(nèi)部原子或分子的結(jié)構(gòu)或形態(tài)等信息，可用于物相鑒定、粒徑表征、點陣參數(shù)、結(jié)晶度、殘余應力、晶體取向及織構(gòu)的測定，具有不損傷樣品、無污染、快捷、高精度、可獲取信息量大等優(yōu)點。

樣品要求

☆請盡量用樣品管盛裝粉末樣，用樣品袋盛裝難以刮下且易損失，可能影響測試效果。

1. 粉末樣至少50mg（如樣品密度偏大，請適量增加），粒度＜200目，手搓無明顯顆粒感，越細越好；

2. 塊體樣品需表面平整，尺寸在3*3*1cm以內(nèi)；

3. 塊體/薄膜樣品請注明測試面；

4. 較薄的薄膜/涂層樣品（厚度＜100nm）請慎重選擇廣角XRD；

5. 微區(qū)XRD樣品需標記待測點，束斑最小為0.01mm，樣品高度應不超過8mm，待測面應平整光滑。

項目案列