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項目介紹

掠入射X射線散射（GIXS）包括掠入射廣角散射（GIWAXS）和掠入射小角度散射（GISAXS），是基于同步輻射光源的X射線散射技術，用于表征表面或薄膜中的納米級密度相關性、納米物體形狀以及晶格中的原子和分子距離，被廣泛應用于研究有機太陽能電池、鈣鈦礦太陽能電池的形貌特征、晶體結構等。

例如在OPV材料結構研究中，GIWAXS被用來探測分子尺度、結構信息，常用于研究有機給體和受體材料在活性層中的分子堆疊，如結晶度、晶格常數(shù)和取向性。GISAXS可以看作是傳統(tǒng)小角散射和全反射測量的結合，能夠獲得表面、薄膜、覆蓋層中的納米結構（如納米顆粒、量子點等）的尺寸分布、形狀以及排列分布的相關信息。

提供優(yōu)質快速的GIXS測試和數(shù)據(jù)分析服務，目前已同南昌大學、南京理工、華南理工、電子科大等眾多OPV、鈣鈦礦課題組開展測試合作。

樣品要求

提示：GIWAXS/GISAXS測試有同步輻射光源和常規(guī)光源，請先根據(jù)文獻或測試需求確認是否需要同步輻射光源測試GIWAXS/GISAXS。

1.樣品測試請?zhí)峁?span style="color: rgb(230, 0, 0);">空白基底樣，要求在空白基底上沉積與器件制備工藝一致的傳輸層且測試收費；

2.基底多為單晶硅，可提供，若自行準備尺寸不可超過2.5*2.5cm，1*1cm最好，默認樣品不回收；

3.測試前請明確測試條件，如q值范圍、掠入射角度范圍、曝光時間等；

4.如對數(shù)據(jù)格式、數(shù)據(jù)處理有疑問，請先瀏覽數(shù)據(jù)說明；

5.同步輻射項目測試為機時預約制，需測試前付費預約；

6.請根據(jù)材料的耐氧、耐濕等性質，妥善封裝樣品；

7.如有任何測試相關問題，請聯(lián)系負責人解答。

項目案列

Adv.Funct.Mater.2020,1909837:三元有機太陽能電池

J.Mater.Chem.A.2020.8.5458-5466:非富勒烯太陽能電池

常見問題

測試效果不好是什么原因導致？

散射信號會包含基底的信息，如不能完全扣除背底信號，就會導致無效信號干擾樣品信號，同時以下情況也是原因之一

1. 制樣不均勻，光斑打在了不合適位置；

2. 樣品表面不平整，影響信號；

3. 掠入射角度選擇不適宜；

4. 線站測試問題，如光束線不穩(wěn)等。

積分是怎么獲得的？

數(shù)據(jù)處理可以得到2D圖，處理轉換得到面內外積分，角度積分，并不是直接測試得出

測試波長是否可調節(jié)？

一般可以調節(jié)，需要先確認適用波長，并與線站溝通是否能達到條件。

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